電子氣體是超大規模集成電路、液晶顯示器件、半導體發光器件、太陽能電池等電子工業生產不可缺少的原材料,它們廣泛應用于薄膜、刻蝕、摻雜、氣相沉積、擴散等工藝。
半導體、實驗室等制造、科研產業對潔凈度的要求愈發嚴格,對氣源及氣體管路的檢測規格有了更高的要求。
氣體中的氧、水、總烴等雜質,在生產過程中可能會以原子形態進入芯片結構中去,影響芯片質量。
H2O和晶片中的Si會產生化學反應,生產二氧化硅,影響晶片厚度,因此對氣體中的水分含量必須加以控制。
半導體行業氣體中的露點測量是一個挑戰,以99.9999%的高純氮氣為例,其水分含量低于1ppm,也就是100萬個氣體分子中, 不到1個水分子。如此微量的水分子含量, 對Moisture濕度傳感器的靈敏度和準確性都是一個真正的考驗。在過往,高精度的水分儀往往伴隨著高成本,而隨著金屬氧化物陶瓷濕度傳感器的開發,在精度和價格上的選擇不再是魚和熊掌不能兼得的困境。
可以測量低至 -120 °Cdp,在-60°Cdp時精度為±1°C,對過程環境的變化可以快速響應。
金屬氧化物陶瓷濕度傳感器技術,借鑒半導體領域的厚薄膜技術,把整個傳感器構建在堅固穩定的陶瓷基座上?;诙嗫赘袧駥訉λ肿拥奈?,通過感受水氣分壓得出(工況下)水露點值。該吸濕活性層如同“三明治”一樣被夾在陶瓷基底上的兩個導電層之間,厚度僅不到一微米,而頂部金箔層只允許水分子自由進入傳感器,且與多孔導電層相比更薄。因此,當周圍環境的濕度發生變化的時候,傳感器對濕度變化會有非常靈敏的反應。它能夠檢測超高純度氣體中低至百萬分之幾的Moisture微量水分含量。
水分的測試是利用純度較高的N2對待側管路進行長時間的Purge(清除,吹掃),將水氣帶離管路,并在一端接上分析儀器,直至儀器顯示的含水量濃度達到測算標準。
壓縮空氣檢測儀 Moisture水含量檢測步驟:
(1)先將待測管路預吹4小時以上(預吹時間越長,測試時間越短);
(2)將待測管路銜接至測試儀;
(3)打開電源,開始測試,直至讀數下降到50ppb以下。